Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, PLD process, microstructure, fabrication, substrate Hastelloy
Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Ibi A., Yoshizumi M., Fukushima H.
Ключевые слова: presentation, HTS, YBCO, coated conductors, REBCO, nanodoping, critical current density, angular dependence, TFA-MOD process, PLD process, fabrication, defects, critical current, homogeneity, long conductors, thickness dependence, angular dependence, critical current density, critical caracteristics, experimental results, pinning centers artificial, grain size, microstructure
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Kato T., Hirayama T., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Miura T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, long conductors, template layers, fabrication, critical current density, critical caracteristics, length
Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Kuriki R., Ibi A., Kobayashi H., Fukushima H., Kinoshita A.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Kato T., Hirayama T., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Miura T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, buffer layers, IBAD process, texture, microstructure, fabrication
Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Kiyoshi T., Miyata S., Kosuge M., Kuriki R., Ibi A., Fukushima H., Kinoshita A., Yoshizumi. M.
Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Kuriki R., Ibi A., Fukushima H., Ishida S., Kinoshita A.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, IBAD process, buffer layers, comparison, texture, fabrication, presentation
Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Hirayama T., Sutoh Y., Yajima A., Miura M., Yoshizumi M., Yashima A.
Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Takahashi H., Kuriki R., Ibi A., Fukushima H.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, long conductors, Jc/B curves, coils solenoidal, power equipment, critical caracteristics, fabrication
Takahashi K., Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Kuriki R., Ibi A., Kobayashi H., Fukushima H.
Nakamura T., Kiss T., Shiohara Y., Inoue M., Imamura K., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Ibi A., Shoyama T., Koyanagi S., Mitsui D.
Takahashi K., Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Ibi A., Kobayashi H., Fukushima H., Kinoshita A.
Iijima Y., Muroga T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kakimoto K., Yamada Y., Iwai H., Hirayama T., Sutoh Y., Miyata S., Sasaki H., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y., Ibi A., Sasaki Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, PLD process, fabrication, microstructure, grain alignment
Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Ibi A., Kobayashi H., Takahashi K(ktakahashi@istec.or.jp), Fukushima H.
Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Ibi A.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.